納米粒度分析儀的結(jié)構(gòu)分析
更新時(shí)間：2023-11-22
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納米粒度分析儀的工作原理是基于激光照射到樣品上后產(chǎn)生的散射光信號(hào)，通過(guò)探測(cè)器捕捉這些信號(hào)并轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。計(jì)算機(jī)根據(jù)這些電信號(hào)的特征參數(shù)來(lái)計(jì)算出樣品的粒子尺寸分布及相關(guān)參數(shù)。為了實(shí)現(xiàn)高精度的粒子尺寸分析，納米粒度分析儀可以采用不同的散射角度、波長(zhǎng)范圍和模型算法等技術(shù)。
納米粒度分析儀主要由激光器、探測(cè)器、樣品池、運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)等組成。
1.激光器：通常采用半導(dǎo)體激光器，發(fā)出的光線(xiàn)波長(zhǎng)在可見(jiàn)光范圍內(nèi)，光線(xiàn)穩(wěn)定且壽命長(zhǎng)。
2.探測(cè)器：一般使用光電倍增管或雪崩二極管作為探測(cè)器，用于捕捉散射光信號(hào)并將其轉(zhuǎn)化為電信號(hào)。
3.樣品池：樣品池是待測(cè)樣品的容器，通常采用石英或玻璃材質(zhì)，以保證光線(xiàn)的透過(guò)率。
4.運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)：通常由步進(jìn)電機(jī)和精密導(dǎo)軌組成，用于控制樣品池的移動(dòng)，使待測(cè)樣品能被激光束照射到。
5.計(jì)算機(jī)：用于控制整個(gè)儀器的工作流程，處理探測(cè)器采集的數(shù)據(jù)，并通過(guò)特定的軟件算法分析計(jì)算樣品的粒度分布及相關(guān)參數(shù)。
